Electronic Theses and Dissertation

Telah dilakukan penelitian tentang analisa pola xrd superkonduktor sistem bi-2212 dengan menggunakan metode melt textured growth. pelelehan sampel dilakukan pada suhu 930°c selama 20 menit, kemudian suhu diturunkan ke 885oc dengan laju 180°c/jam lalu dilakukan pendinginan lambat (slow cooling) dengan laju 0,5oc/jam dengan rnemvariasikan waktu slow cooling selama 130 jam dan 140 jam sehingga suhu akhir menjadi 820°c dan 8i5oc.setelah dilakukan pelelehan, sampel dikarakterisasi dengan pengukuran pola xrd dan uji efek meissner. berdasarkan hasil yang diperoleh dari analisa pola xrd yaitu nilai fraksi volume dan persentase fase terorientasi yang lebih baik diperoleh dan sampel dengan waktu slow cooling 130 jam yaitu 71,6 % dan 44,3% serta impuritas yang rendah juga diperoleh dari sampel dengan waktu slow cooling 130 jam yaitu 28.4%. scdangkan nilai fraksi volume dan persentase fase terorientasi tcrendab diperoleh dari sampel dcngan waktu slow cooling 140 jam yaitu 53,1% dan 15.3% serta impuritas menigkat sebesar 46,9%. berdasarkan hasil pengujian meissner kedua sampel tidak menunjukkan sifat superkonduktif bahan, akan tetapi kedua sampel ini berhasil dibuat sebagai bahan superkonduktor bi-2212 yang dibuktikan dengan basil analisa pola xrd bahwa nilai yang didapatkan untuk fraksi volume di atas 50%. kata kunci : melt textured growth. slow cooling. meissner